- 制造厂商:AD
- 产品类别:隔离式栅极驱动器
- 技术类目:隔离式栅极驱动器
- 功能描述:输出为 2 A 的隔离式高精度栅极驱动器
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ADuM4120/ADuM4120-1 是 2 A 隔离式单通道驱动器,采用 Analog Devices, Inc., iCoupler 技术提供高精度隔离。ADuM4120/ADuM4120-1 通过 6 引脚宽体 SOIC 封装提供 5 kV rms 隔离,爬电距离更长。这些隔离元件集高速 CMOS 和整体式变压器技术于一身,能够提供兼备脉冲变压器和栅极驱动器特点的出色性能。
ADuM4120/ADuM4120-1 工作输入电压介于 2.5 V 到 6.5 V 之间,兼容较低的电压系统。与采用高压电平转换方法的栅极驱动器相比,ADuM4120/ ADuM4120-1 具有输入和输出之间真正的电气隔离。
这些型号都可选配输入干扰滤波器(不选配亦可)。干扰滤波器有助于降低在输入引脚上产生触发输出的噪音的几率。
因此,ADuM4120/ADuM4120-1 能够可靠控制绝缘栅极双极晶体管 (IGBT)/金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 配置在各种开关电压下的开关特性。
应用
- 开关式电源
- IGBT/MOSFET 栅极驱动器
- 工业逆变器
- 氮化镓 (GaN)/碳化硅 (SiC) 功率器件
- 2.3 A 峰值输出电流 (<2 Ω RDSON_x)
- 2.5 V 到 6.5 V VDD1 输入
- 4.5V 到 35 V VDD2 输出
- 2.3 V VDD1 时欠压锁定 (UVLO)
- VDD2
上存在多个欠压锁定 (UVLO) 选项- A 级—4.4 V(典型值)正向阈值
- B 级—7.3 V(典型值)正向阈值
- C 级—11.3 V(典型值)正向阈值
- 精准定时特性
- 隔离器和驱动器下降缘传播延迟最大 79 ns (ADuM4120)
- CMOS 输入逻辑电平
- 高共模瞬变抗扰度:150 kV/μs
- 高工作结温:125°C
- 默认低电平输出
- 安全和监管审批(申请中)
- UL 认证:符合 UL 1577
- 1 分钟 5 kV rms,SOIC 长封装
- CSA 元件验收通知 5A
- VDE 符合性证书(申请中)
- DIN V VDE V 0884-10 (VDE V 0884-10):2006-12
- VIORM = 849 V 峰值
- UL 认证:符合 UL 1577
- 8 mm 爬电距离
- 6 引脚宽体 SOIC 封装,爬电距离更长
ADUM4120-1ARIZ,封装:6-Lead SOIC (Increased Creepage),包装形式及数量:管装,100,工作温度:-40 to 125C,AD官网报价:2.59(100-499个);1.9(1000+个)
ADUM4120-1ARIZ-RL,封装:6-Lead SOIC (Increased Creepage),包装形式及数量:卷带,1500,工作温度:-40 to 125C,AD官网报价:2.59(100-499个);1.9(1000+个)
ADUM4120-1BRIZ,封装:6-Lead SOIC (Increased Creepage),包装形式及数量:管装,100,工作温度:-40 to 125C,AD官网报价:2.59(100-499个);1.9(1000+个)
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ADUM4120-1CRIZ,封装:6-Lead SOIC (Increased Creepage),包装形式及数量:管装,100,工作温度:-40 to 125C,AD官网报价:2.59(100-499个);1.9(1000+个)
ADUM4120-1CRIZ-RL,封装:6-Lead SOIC (Increased Creepage),包装形式及数量:卷带,1500,工作温度:-40 to 125C,AD官网报价:2.59(100-499个);1.9(1000+个)
EVAL-ADuM4120:ADuM4120 和 ADuM4120-1 评估板
评估板EVAL-ADuM4120EBZ和EVAL-ADuM4120-1EBZ支持集成米勒箝位的ADuM4120/ADuM4120-1单通道栅极驱动器。ADI公司的 iCoupler 技术在输入信号与输出栅极驱动器之间实现隔离。EVAL- ADuM4120-1EBZ选项配有ADuM4120-1,它未集成内部输入毛刺滤波器,因此传播延迟更低。
UG-1109中的说明和器件同时适用于EVAL-ADuM4120EBZ和EVAL-ADuM4120-1EBZ。
ADuM4120/ADuM4120-1的工作电压最高可达35 V。高共模瞬变抗扰度(CMTI)和可靠的驱动强度使ADuM4120/ADuM4120-1非常适合快速开关技术。
EVAL-ADuM4120EBZ评估板有助于对该器件的传播延迟、驱动强度和输入逻辑进行测试。
有关ADuM4120/ADuM4120-1的完整信息,请参阅ADuM4120/ADuM4120-1数据手册,使用评估板时应同时参考UG-1109与数据手册。