请务必选择低输入偏置电流(IB)操作放大器。使用笔记 AN-1373 介绍如何使用 ADA4530-1 由于飞安，评估板测量了超低偏置电流。(fA)测量环境(夹具、屏蔽、电缆、AD中国代理测量结果也会受到连接器等设备的影响。

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问题:

飞安级超低偏置电流有没有测量的简单方法？

答案:

有-只需仔细设置。

简介

请务必选择低输入偏置电流(IB)操作放大器。使用笔记 AN-1373 介绍如何使用 ADA4530-1 由于飞安，评估板测量了超低偏置电流。(fA)测量环境(夹具、屏蔽、电缆、连接器等设备)也会影响测量结果。

本文将介绍如何重现常用的商业实验室设备、夹具和材料AN-测量过程在1373中，并提供些改进测量的替代方案，最终测试的偏置电流将达到50 fA。首先，我们测量了用于测量偏置电流的输入电容器输入内部等效共模输入电容器）和125°C输入电容充电时输出电压的变化。我们还试图根据输出电压推导偏置电流值。最后，我们将尝试根据测量结果改善测量环境。

容性集成测量

根据AN-1373容性集成测量方法，必须先测量1373ADA4530-1的输入电容(Cp)。我们将使用 ADA4530-1R-EBZ-BUF 实施本实验，ADA配置为单位增益的4530-1缓冲模式。

然后我们计算输入电流(IB )。具体来说，当测试箱中使用图1所示的电路配置时SW从ON（接地至GND）转到OFF(开路)，IB 流入Cp。当IB 给Cp充电时，输出电压升高，因此通过监控IB 并将其代入等式1，可计算其值。

图1.容性集成测量方法示意图。

总输入电容通过输入串联电阻测量

为计算Cp，本实验采用串联电阻法。图2显示了一个简单的电路示意图。串联电阻的值基于AN-实际值为1373第6页的测量指南Rs= 8.68 MΩ。另外，安装在测试箱中SW，用于以后的实验(此时，SW开路）。

函数发生器的波形衰减可以测量3 dB输入电容可以用等式2计算。

图2。使用输入串联电阻计算Cp。

图3显示这一设置。通过已知输入电容测量IB ”部分（AN-在1373的第6页)描述的实验中，由于温度控制室的温度升高到125°C，因此，我们使用能够承受温度的材料。RG-316U用作同轴电缆的材料。另外，在评估板上ADA同相输入4530-1是三轴连接器。为此，使用三轴-同轴转换连接器（Axis公司的BJ-TXP-

图9.移除测试箱后的测量结果。蓝线、橙线和绿线是Cp= 35.2 pF时间测量结果。Cp= 26.5 pF时间测量结果。

在所有测量中，由DMM测量的输出电压以恒定斜率上升，达到约4.16 V。相应的电流值约为50 fA。

此外，图9中的红线显示波形(Cp= 26.5 pF)。电压升高的斜率与理论计算值相同。从这些测量结果可以看出，输入侧的电导组件对测量精度有显著的不利影响。

结论

虽然fA一般实验室环境下可以进行等级测量，但需要仔细考虑放大器输入侧的漏电流路径。

为提高测量精度，建议在输入侧使用三轴电缆。

致谢

作者衷心感谢Scott Hunt、Iku Nagai和Jun Kakinuma技术建议。

参考资料

Wong, Vicky。 “应用笔记AN-1373：ADA4530-1m微安级输入偏置电流测量 AD2015年10月，公司。