AD5560是一款高性能、高集成度器件电源，提供可编程的驱动电压和测量范围。该产品包括所需的DAC电平，用以设置驱动放大器的可编程输入，此外还包括箝位和比较器电路。片内集成用于DAC功能的失调和增益校正功能。它提供多种可编程测量电流范围，包括五种内部固定范围和两种分别提供最高1.2 A和500 mA电流的外部可选范围（EXTFORCE1和EXTFORCE2）。高电流电平时可实现的电压范围受裕量和最大功耗限制。通过并联或联合多个DPS器件，可以实现1.2 A以上的电流范围或高电流与高电压组合。发生过流、过温状况时，它会提供开漏报警输出，或者在SENSE、DUTGND线上提供开尔文报警。

该DPS的功能通过一个与SPI、QSPI、MICROWIRE、DSP接口标准兼容的简单三线式串行接口控制，接口时钟速度最高可达50 MHz。

应用

• 自动测试设备(ATE)
  • 器件电源

• 可编程器件电源(DPS)
  • FV、MI、MV、FNMV功能
• 5个内部电流范围（片内RSENSE）
  • ±5 μA、±25 μA、±250 μA、±2.5 mA、±25 mA
• 2个外部高电流范围（外部RSENSE）
  • EXTFORCE1：±1.2 A（最大值）
  • EXTFORCE2：±500 mA（最大值）
• 集成可编程电平
  • 全部为16位DAC：驱动DAC、比较器DAC、箝位DAC、失调DAC、OSD DAC、DGS DAC
• 可编程开尔文箝位和报警
• 片内集成失调和增益校正寄存器
• 驱动DAC提供斜坡电源压摆模式
• 可编程压摆率特性：1 V/μs至0.3 V/μs
• DUTGND开尔文检测和报警
• 25 V FV跨度，可在−22 V至+25 V范围内非对称工作
• 片内集成比较器
• 可联合多个器件以提供更高的电流
• 保护放大器
• 系统PMU连接
• 电流箝位
• 芯片温度传感器和关断特性
• 片内集成二极管测温阵列
• 可通过诊断寄存器访问内部节点
• 开漏报警标志（温度、电流箝位、开尔文报警）
• SPI/MICROWIRE/DSP兼容型接口
• 64引脚(10 mm × 10 mm)TQFP封装，带裸露焊盘（顶部）
• 72引脚(8 mm × 8 mm)倒装芯片BGA封装

AD5560JBCZ，封装：72-Ball CSPBGA (8mm x 8mm x 1.4mm)，包装形式及数量：托盘，348，工作温度：25 to 90C，AD官网报价：32.34（100-499个）；30.56（1000+个）

AD5560JBCZ-REEL，封装：72-Ball CSPBGA (8mm x 8mm x 1.4mm)，包装形式及数量：卷带，2000，工作温度：25 to 90C，AD官网报价：32.34（100-499个）；30.56（1000+个）

AD5560JSVUZ，封装：64-Lead TQFP (10mm x 10mm w/ EP)，包装形式及数量：托盘，160，工作温度：25 to 90C，AD官网报价：24.11（100-499个）；20.5（1000+个）

AD5560JSVUZ-REEL，封装：64-Lead TQFP (10mm x 10mm w/ EP)，包装形式及数量：卷带，1500，工作温度：25 to 90C，AD官网报价：24.11（100-499个）；20.5（1000+个）

EVAL-AD5560：AD5560 评估板

EVAL-AD5560EBUZ是针对AD5560的全功能评估板。此评估板可单独使用，也可通过USB与PC相连。若通过USB与PC相连，用户可利用提供的软件来控制PMU通道，并通过片上AD7685 ADC测量不同的电压和电流参数。AD5560芯片温度测量还可通过片上ADT7461温度传感器实现。此软件还提供技术笔记，说明EVAL-AD5560EBUZ板的操作和设置。